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  • ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 高分子相結構分析系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結構分析系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結構分析系統ELSZ-2000S
  • Agilent 7100 OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統 陽離子和陰離子等不同的成分可以用一臺裝置進行分析。 用微量樣品可以進行短時間、高分辨率的分析。 OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統Agilent 7100
  • DRM-3000 OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計 可以根據靜光散射法的重量平均分子量決定的dn / dc測量。 OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000
  • SLS-6500HL OTSUKA大冢- 靜態光散射光度計 可以測量使用靜光散射法的**分子量、慣性半徑、**膽量系數。 OTSUKA大冢- 靜態光散射光度計SLS-6500HLOTSUKA大冢- 靜態光散射光度計SLS-6500HLOTSUKA大冢- 靜態光散射光度計SLS-6500HL
  • FPAR-1000AS OTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑 FPAR和自動取景器的組合中，關于50檢體的試料，可以進行粒子直徑的自動測量。 樣品量為1ml，可以使用廉價的電筒進行測量。 OTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-100
  • FPAR-1000 OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統 從稀薄系到濃厚系，在廣泛的濃度區域中的粒子直徑測量 *適合分析膠體分散液和拉拉力的分散狀態。 OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統FPAR-1000OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統FPAR-1000OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統FPAR-1000
  • FDLS-3000 OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計 根據固體激光和高靈敏度檢測器（冷卻型光電子倍增管），可以測量0.5nm～5000 nm的粒子直徑和粒子直徑分布（粒徑·粒徑分布）。OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000
  • DLS-6500series OTSUKA大冢- 動態光散射光度計 可測量使用動態光散射法的粒子直徑、粒子直徑分布（粒徑、粒徑分布）。 OTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-6500series
  • ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000S
  • nanoSAQLA OTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測量系統nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測量系統nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測量系統nanoSAQLA
  • DLS-8000series OTSUKA大冢- 動態光散射光度計 用動態光散射法的粒子直徑·粒子直徑分布（粒徑·粒徑分布）測量和使用靜光散射法的優良分子量·慣性半徑·**膽量系數的測量。OTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-8000seriesOTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-8000series
  • ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 電位測量系統 OTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000S

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